DRK203 臺式高精薄膜測厚儀 箔片硅片厚度儀，儀器依據如下標準制作：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777。

DRK203 臺式高精薄膜測厚儀 箔片硅片厚度儀，儀器適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

【技術參數】

1. 測量范圍：0～3mm
2. 分辨率：0.1μm    精度：1級
3. 測量速(su)度：5次/min（可(ke)調）；測頭移動速(su)度：3mm/s（可(ke)調）

4. 接觸面積：28mm (直徑6mm）  非標(biao)可(ke)定制

【產品特點】
1. 接觸式測量
2. 測頭自動升降
3. 自動測量模式
4. 數據實時顯示、自動統計、打印
5. 顯示最大值、最小值、平均值和統計偏差
6. 標準接觸面積、標定壓強
7. 標準量塊(kuai)標定測量參(can)數

8. 數據分析功能

山東德瑞克儀器股份有限公司自2004年成立以來始終秉承以技術創新成就企業價值的理念，不斷推陳出新。坐落于濟南時代總部基地，內設核心研發部，長期從事行業技術探索創新。同時公司與國內外高等院校及科研機構保持合作關系，互利共贏。
公司先后為國內外多個省份及地區提供實驗室解決方案及配套設備。業務范圍涵蓋：科研單位、質檢機構、大專院校、醫院、化驗室、防護fu、包裝、造紙、印刷、橡塑、化工、食品、紡織等不同領域。