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更新時間：2023-02-27
DRK-W系列 G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀，設備的高品質和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業生產的質量控制等諸多領域中得到了廣泛的應用。例如：材料、化工、制藥、精細陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產原材料、產品、中間體等。
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DRK-W系列 G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀，設備的高品質和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業生產的質量控制等諸多領域中得到了廣泛的應用。例如：材料、化工、制藥、精細陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產原材料、產品、中間體等。
DRK-W系列 G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀，技術參數:
型號 | DRK-W1 | DRK-W2 | DRK-W3 | DRK-W4 |
理論依據 | Mie散射理論 | |||
粒徑測量范圍 | 0.1-200um | 0.1-400um | 0.1-600um | 0.1-1000um |
光源 | 半導體制冷恒溫控制紅光固體激光光源，波長635nm | |||
重復性誤差 | <1%（標準D50偏差） | |||
測量誤差 | <1%（標準D50偏差，用國家標準顆粒檢驗） | |||
檢測器 | 32或48通道硅光電二極管 | |||
樣品池 | 固定樣品池、循環樣品池（內置超聲分散裝置） | |||
測量分析時間 | 正常條件下小于1分鐘（從開始測量到顯示分析結果） | |||
輸出內容 | 體積、數量微分分布和累積分布表和圖表；多種統計平均直徑；操作者信息；實驗樣品信息、分散介質信息等。 | |||
顯示方式 | 內嵌10.8寸工業級別的電腦，可連接鍵盤、鼠標、U盤 | |||
電腦系統 | WIN 10系統，30GB硬盤容量、2GB系統內存 | |||
電源 | 220V，50 Hz | |||
DRK-W系列 德瑞克激光粒度分析儀工作條件:
1.室內溫度：15℃-35℃
2.相對溫度：不大于85%（無冷凝）
3.建議用交流穩壓電源1KV，無強磁場干擾。
4.由于在微米級的范圍內的測量，儀器應放在堅固可靠、無振動的工作臺上，并且在少塵條件下進行測量。
5.儀器不應放在太陽直射、風大或溫度變化大的場所。
6.設備必須接地，保證安全和高精度。
7.室內應清潔、防塵、無腐蝕性氣體。
注：因技術進步更改資料，恕不另行通知，產品以后期實物為準。
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