真空衰減法無損檢測微泄露密封性測試儀

更新時間：2023-02-28

簡要描述：

DRK 真(zhen)空(kong)衰減法無損(sun)檢測(ce)(ce)微(wei)泄(xie)露密(mi)封性測(ce)(ce)試(shi)儀，符合FASTM F2338-09標(biao)準(zhun)和USP40-1207法規要(yao)(yao)求(qiu)，基于雙傳(chuan)感(gan)器技術(shu)，雙循環系統的(de)真(zhen)空(kong)衰減原理將微(wei)泄(xie)漏(lou)密(mi)封測(ce)(ce)試(shi)儀主機連接到一個(ge)特別設(she)計用(yong)來容(rong)納需(xu)要(yao)(yao)被測(ce)(ce)試(shi)包裝(zhuang)物的(de)測(ce)(ce)試(shi)腔內(nei)(nei)，對測(ce)(ce)試(shi)腔進行抽真(zhen)空(kong)，包裝(zhuang)物內(nei)(nei)外形成壓(ya)力(li)差，在壓(ya)力(li)的(de)作(zuo)用(yong)下包裝(zhuang)物內(nei)(nei)氣(qi)體通過漏(lou)孔擴散至測(ce)(ce)試(shi)腔內(nei)(nei)，雙傳(chuan)感(gan)器技術(shu)檢測(ce)(ce)時間和壓(ya)力(li)的(de)變化關系，與標(biao)準(zhun)值進行比較判斷(duan)試(shi)樣是否泄(xie)漏(lou)。

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DRK 真空衰減法無損檢測微泄露密封性測試儀，符合FASTM F2338-09標準(zhun)和USP40-1207法規要求(qiu)，基(ji)于雙(shuang)傳感(gan)器技術，雙(shuang)循環系統的(de)真空衰減原理(li)將微泄(xie)漏(lou)密封測(ce)試儀主(zhu)機連接到一個特別設(she)計(ji)用來容納需(xu)要被測(ce)試包裝物(wu)的(de)測(ce)試腔內(nei)，對測(ce)試腔進(jin)行抽真空，包裝物(wu)內(nei)外形(xing)成壓力(li)(li)差(cha)，在壓力(li)(li)的(de)作(zuo)用下包裝物(wu)內(nei)氣體(ti)通過漏(lou)孔擴散至測(ce)試腔內(nei)，雙(shuang)傳感(gan)器技術檢測(ce)時(shi)間(jian)和壓力(li)(li)的(de)變(bian)化關系，與標準(zhun)值進(jin)行比較判(pan)斷試樣是否泄(xie)漏(lou)。